Sexta-feira, 12 de junho de 2026 - Por Gabriela Andrietta
Unicamp inaugura Rede de Microscopia Eletrônica e equipamento de última geração
Iniciativa congrega o Centro de Componentes Semicondutores (CCSNano) e outras 10 unidades da universidade
A cerimônia de inauguração da Rede de Microscopia Eletrônica (RMU) e do novo Microscópio de Microscopia Eletrônica, realizada no dia 12 de junho, no Espaço Plasma, representou um marco para a estratégica de longo prazo em microscopia na Universidade.
A iniciativa foi contemplada por um edital da Fapesp (22/11594-8) e recebeu R$ 15 milhões, dos quais R$ 13,3 milhões foram destinados à compra do microscópio, sediado no Instituto de Física "Gleb Wataghin" (IFGW). O restante, R$ 1,7 milhão, foi utilizado na adaptação da infraestrutura necessária para sua instalação.
Descerramento da placa.
A mesa foi composta pela pró-reitora de Pesquisa da Unicamp, Ana Frattini, representando o reitor Paulo César Montagner; por André de Castro Pereira Nunes, superintendente da área de Pesquisa Aplicada e Desenvolvimento Tecnológico da Finep; por Wagner Amaral, gestor de Programas Estratégicos e Infraestrutura da FAPESP, representando o coordenador científico da Fundação, Márcio de Castro Silva Filho; pelo diretor do Instituto de Física Gleb Wataghin (IFGW), Marcos César Oliveira; pelo coordenador do Laboratório Multiusuário de Microscopia e Microanálise (LM2E), Diego Muraca; pelo coordenador do Programa Equipamentos Multiusuários (EMU) da FAPESP, Rubens Caran Junior; e pela coordenadora da Rede de Microscopia da Unicamp (RMU), Daniela Zanchet.
Estrutura Multiusuário
Durante a abertura, os participantes destacaram que a implantação do microscópio representa muito mais do que a aquisição de um equipamento de alta tecnologia. A iniciativa envolve 11 unidades da Unicamp para uso de um laboratório multiusuário e multi unidades.
A pró-reitora de pesquisa, Ana Frattini, reforçou que a universidade avança na criação de mecanismos de gestão compartilhada de equipamentos científicos, ampliando o acesso a recursos estratégicos e garantindo o bom uso do recurso público. Além disso, ressaltou a importância do compartilhamento de conhecimento e da formação de estudantes e pesquisadores capacitados para operar equipamentos de alta complexidade.
Em vez de utilizar luz, como em um microscópio óptico, o equipamento inaugurado utiliza feixes de elétrons e detectores, permitindo alcançar resolução atômica. Permitirá estudos estruturais de materiais e contará com tecnologias avançadas para aquisição de dados quantitativos, incluindo técnicas como 4D-STEM (Scanning Transmission Electron Microscopy), método avançado de microscopia que captura um padrão completo de difração de elétrons bidimensional (2D) em cada pixel de uma imagem, gerando um gigantesco conjunto de dados de quatro dimensões.
Autoridades visitam o microscópio.
O microscópio eletrônico de alta resolução é uma infraestrutura multiusuária que atende a diversas áreas do conhecimento. A sua versatilidade possibilita aplicações em campos como geologia, odontologia, biologia, química e engenharia mecânica, reunindo pesquisadores que utilizam ferramentas semelhantes para responder a diferentes questões científicas. Na área de Geologia, por exemplo, a microscopia eletrônica permite separar e identificar fases minerais, realizar mapeamentos químicos e caracterizar nanoestruturas com elevada precisão.
Diferenciais do Microscópio de Microscopia Eletrônica de Transmissão de Alta Resolução
Segundo Diego Muraca, Coordenador do LM2E, dois aspectos tornam este microscópio particularmente diferenciado: a difração de elétrons por precessão e o detector de última geração.
A difração de elétrons por precessão permite responder a questões estruturais muito específicas. A precessão faz o feixe de elétrons girar em torno do eixo óptico por pequenos ângulos, da ordem de miliradianos, anulando os efeitos do espelhamento e reduzindo significativamente as contribuições do espalhamento múltiplo.
"Ao rotacionar o feixe, a informação é retirada em diferentes orientações, aproximando o padrão obtido das condições de difração cinemática. Com isso, torna-se possível realizar estudos mais precisos e determinar a estrutura cristalina do material. Em termos de imagem, o feixe percorre múltiplas posições e, posteriormente, softwares de reconstrução utilizam os padrões de difração para gerar a rede cristalina e revelar a estrutura do material. A análise das intensidades relativas dos feixes difratados permite identificar o tipo de cristal presente", explicou o coordenador do LM2E.
O segundo grande diferencial é o detector avançado de elétrons, que será o primeiro equipamento dessa categoria instalado no Brasil. Trata-se de um detector baseado em tecnologia de contagem direta de elétrons, extremamente rápido e sensível.
No entanto, esse avanço também traz novos desafios. A quantidade de dados gerada é enorme, exigindo o desenvolvimento de métodos sofisticados de processamento e análise. O laboratório foi concebido como uma infraestrutura multiusuária. Um dos nossos principais objetivos é desenvolver novas metodologias e, principalmente, formar recursos humanos altamente qualificados.
Nanotecnologia
O físico e pesquisador do IFGW, Jefferson Bettini explica que, fundamentalmente, a microscopia eletrônica permite resolver problemas estruturais e espectroscópicos em escala local. "No entanto, quando o objetivo é observar os detalhes mais finos da matéria, em escalas nanométricas, a microscopia eletrônica torna-se indispensável. Qualquer estudo envolvendo nanoestruturas, nanopartículas, interfaces ou defeitos em materiais depende desse tipo de caracterização".
Isso torna a microscopia eletrônica tão importante. "A continuidade dos avanços em nanociência e nanotecnologia está diretamente ligada à capacidade de caracterizar materiais em escalas cada vez menores. E uma das ferramentas fundamentais para essa caracterização é justamente a microscopia eletrônica. Sem acesso a essa infraestrutura, torna-se muito mais difícil desenvolver pesquisas de ponta em nanociência e nanotecnologia. Em outras palavras, não há avanço consistente nessas áreas sem a capacidade de observar e compreender a estrutura dos materiais em nível nanométrico", explicou Jefferson.
Descerramento da placa.
Autoridades visitam o microscópio.
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